01.04.2024
Участие специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» в заседании Научного совета ОНИТ РАН «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» под руководством президента РАН Г.Я. Красникова
27 марта 2024 г. президент РАН академик РАН Г.Я. Красников провел заседание Научного совета ОНИТ РАН «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» по теме «Технологическое оборудование и технологии». На совещании участники выступили с докладами со следующими темами:
- член-корр. РАН д.т.н. Горнев Евгений Сергеевич. «Варианты решения проблемы обеспечения технологическим оборудованием»;
- к.т.н. Плебанович Владимир Иванович. «Оптико-механическое оборудование научно-производственного холдинга точного машиностроения «Планар»;
- к.т.н. Исаев Антон Алексеевич, Петренко Яков Игоревич. «Выработка и реализация научно-технической политики в области электронного машиностроения»;
- д.т.н. Бородин Алексей Владимирович (АО «ЭЗАН»), член-корр. РАН Бородин Владимир Алексеевич , к.ф.-м.н. Юдин Михаил Викторович. «Карбид кремния: получение монокристаллов, производство эпитаксиальных пластин и автоэпитаксия»;
- член-корр. РАН Рощупкин Дмитрий Валентинович, д.ф.-м.н. Николайчик Владимир Иванович, к.ф.-м.н. Казьмирук Вячеслав Васильевич, к.ф.-м.н. Веретенников Александр Владимирович. «Состояние и перспективы разработок в области растровой электронной микроскопии»;
- к.т.н. Бирюков Михаил Георгиевич, Костюков Денис Андреевич. «Разработка и внедрение линейки перспективного оборудования для КМОП и GaN- технологий»;
- д.т.н. Ковалев Анатолий Андреевич. «Отечественное оборудование для фотолитографии: состояние и перспективы развития»;
- Хисамов Айрат Хамитович. «Эволюция технологического оборудования для производства микроэлектроники: история и перспективы»;
- к.х.н. Карандашев Василий Константинович. «Современное состояние метода масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой»;
- к.ф.-м.н. Алексеев Алексей Николаевич. «Разработка и производство специального технологического оборудования для СВЧ и оптоэлектроники»;
- д.т.н. Быков Виктор Александрович, Быков Андрей Викторович, Быков Андрей Андреевич, Бобров Юрий Александрович, Котов Владимир Владимирович, к.т.н. Леесмент Станислав Игоревич, к.т.н. Поляков Вячеслав Викторовивч. «Актуальные решения атомно-силовой микроскопии и спектроскопии для применений в науке и промышленности от микро- и наноэлектроники до биологии и медицины»;
- д.ф.-м.н. Зайцев Сергей Иванович, к.ф.-м.н. Князев Максим Александрович, член-корр. РАН Рощупкин Дмитрий Валентинович, к.ф.-м.н. Свинцов Александр Александрович. «Электронно-лучевая и ионно-лучевая литографии на основе аппаратно- программного комплекса НАНОМЕЙКЕР: последние результаты и перспективы».
Специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» приняли участие в обсуждениях докладов и в общей дискуссии.
Участие в заседании обеспечивает специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» новыми знаниями, которые используются в текущих работах по: внедрению и сопровождению эксплуатации роботизированных систем визуального контроля поверхностей изделий электронной техники и материалов к ним, собственной разработки; настройке роботизированных систем в соответствии с требованиями действующих норм, правил и стандартов для оценки качества поверхностей изделий электронной техники и материалов к ним; считывания видеоданных, распознавания и классификации дефектов качества; интеллектуальным связям с параллельным выполнением функций в режиме реального времени; использованию математических методов обработки данных компьютерного зрения, глубокому машинному обучению, технологиям нейронных сетей и интеллектуальным мехатронным модулям движения; обобщению и анализу информации об изделиях радиоэлектронной техники, и материалах к ним, их классификации, моделированию, макетированию, унификации и импортозамещению, разработке и экспертизе стандартов, оценке правильности применения изделий радиоэлектроники в радиоэлектронной аппаратуре, разработке информационно-справочных материалов по изделиям радиоэлектроники, импортным аналогах, применяемым материалам, нормативно-техническим документам.
|
