Новости


20.04.2023

Участие специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» в заседании Научного совета Отделения нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания»

     19 апреля 2023 года специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» приняли участие в совместном заседании Научного совета Отделения нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» (председатель — Академик РАН Г.Я. Красников) по теме: «Нейроморфные вычисления и элементная база для их реализации».

    В заседании обсуждались вопросы и проблемы:

- нейроморфного управления и биоморфной робототехники;
- надежного и логически прозрачного искусственного интеллекта как принципа обработки
- информации для нейроморфных и нейрогибридных систем;
- нейроэлектроники;
- cамоорганизованных мемристивных систем для нейроморфных вычислений;
- многомасштабного моделирования нейроморфных устройств памяти;
- надежности и эффективности высокопроизводительных вычислительных комплексов в случае работы с открытыми нейросетями;
- ферроидных материалов для устройств нейроморфных вычислений;
- особенностей организации аналоговой многоуровневой перестройки сопротивления в тонкопленочных оксидных композициях: от сегнетоэлектрических мемристоров до мемристивных нанослоевых гетероструктур;
- мемристивных элементов с нанокомпозиционным функциональным слоем;
- нейроморфных структур на основе мемристивных наноматериалов для робототехнических комплексов и систем искусственного интеллекта;
- применение машинного обучения к задачам контроля внутреннего состояния мемристора.

     Участие в заседании обеспечивает специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» новыми знаниями, которые используются в текущих работах по: внедрению и сопровождению эксплуатации роботизированных систем визуального контроля поверхностей изделий электронной техники и материалов к ним, собственной разработки; настройке роботизированных систем в соответствии с требованиями действующих норм, правил и стандартов для оценки качества поверхностей изделий электронной техники и материалов к ним; считывания видеоданных, распознавания и классификации дефектов качества; интеллектуальным связям с параллельным выполнением функций в режиме реального времени; использованию математических методов обработки данных компьютерного зрения, глубокому машинному обучению, технологиям нейронных сетей и интеллектуальным мехатронным модулям движения; обобщению и анализу информации об изделиях радиоэлектронной техники, и материалах к ним, их классификации, моделированию, макетированию, унификации и импортозамещению, разработке и экспертизе стандартов, оценке правильности применения изделий радиоэлектроники в радиоэлектронной аппаратуре, разработке информационно-справочных материалов по изделиям радиоэлектроники, импортным аналогах, применяемым материалам, нормативно-техническим документам.