Новости
16.06.2026 Заседание Научного совета отделения нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» 
10 июня 2026 года специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» приняли участие в заседании Научного совета отделения нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания». На заседании были рассмотрены: направления применения интегральной фотоники; вопросы интеграции для решения задач радиофотоники; состояние и перспективы развития вычислительной фотоники. Участие в заседании обеспечивает специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» новыми знаниями, которые используются в разработках и сопровождении стандартов по фотонным интегральным схемам: термины и определения; классификация, система условных обозначений и УГО; технические требования; требования к корпусам; испытания и измерения; показатели надежности и гарантии; контроль качества в процессе производства и правила приемки; требования к маркировке; требования к упаковке; требования к хранению и транспортировке; указания по применению и эксплуатации. Также как и в текущих работах по: внедрению и сопровождению эксплуатации роботизированных систем оптического контроля качества изделий электронной техники и материалов к ним, собственной разработки; настройке роботизированных систем в соответствии с требованиями действующих норм, правил и стандартов для оценки качества изделий электронной техники и материалов к ним; считывания видеоданных, распознавания и классификации дефектов; интеллектуальным связям с параллельным выполнением функций в режиме реального времени; использованию математических методов обработки данных компьютерного зрения, глубокому машинному обучению, технологиям нейронных сетей и интеллектуальным мехатронным модулям движения; обобщению и анализу информации об изделиях радиоэлектронной техники, и материалах к ним, их классификации, моделированию, макетированию, унификации и импортозамещению, оценке правильности применения изделий радиоэлектроники в радиоэлектронной аппаратуре, разработке информационно-справочных материалов по изделиям радиоэлектроники, импортным аналогах, применяемым материалам. |
