Новости

02.06.2026

XXVIII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и системам технического зрения



     Специалисты АО «ЦКБ «Дейтон» 27–29 мая 2026 года приняли участие в работе XXVIII Международной научно-технической конференция по фотоэлектронике и системам технического зрения 27-29 мая. Конференции проведена с участием профильных министерств и ведомств, госкорпораций, ведущих университетов, фондов развития и лидирующих промышленных предприятий.

     Участие в Конференции обеспечило специалистов АО «ЦКБ «Дейтон» новыми знаниями, которые используются в текущих работах по: внедрению и сопровождению эксплуатации роботизированных систем контроля качества изделий электронной техники и материалов к ним, собственной разработки; настройке роботизированных систем в соответствии с требованиями действующих норм, правил и стандартов для оценки качества изделий электронной техники и материалов к ним; считывания видеоданных, распознавания и классификации дефектов; интеллектуальным связям с параллельным выполнением функций в режиме реального времени; использованию математических методов обработки данных компьютерного зрения, глубокому обучению, технологиям нейронных сетей и интеллектуальным мехатронным модулям движения; обобщению и анализу информации об изделиях радиоэлектронной техники, и материалах к ним, их классификации, моделированию, макетированию, унификации и импортозамещению, разработке и экспертизе стандартов, оценке правильности применения изделий радиоэлектроники в радиоэлектронной аппаратуре, разработке информационно-справочных материалов по изделиям радиоэлектроники, импортным аналогах, применяемым материалам, нормативно-техническим документам.

     Участники Конференции проявили интерес к работам АО «ЦКБ «Дейтон» в части внедрения и сопровождения эксплуатации роботизированных систем контроля качества изделий электронной техники и материалов к ним; настройки роботизированных систем; считывания видеоданных, распознавания и классификации дефектов; использования математических методов обработки данных компьютерного зрения, глубокого обучения, технологий нейронных сетей и интеллектуальных мехатронных модулей движения; обобщения и анализа информации об изделиях радиоэлектронной техники.