Новости
28.01.2026 Статья «Тенденции развития систем освещения в методах автоматизированного оптического обнаружения дефектов изделий электронной техники в 2025 г.» Опубликована статья «Тенденции развития систем освещения в методах автоматизированного оптического обнаружения дефектов изделий электронной техники в 2025 г.» в продолжение описания методов и способов настройки изображений для видимого диапазона обнаружения дефектов, методов измерения, классификации и формирования базы данных (БД) дефектов с помощью автоматизированного программно-аппаратного комплекса (АПАК) для поиска дефектов изделий электронной техники (ИЭТ) с сохранением изображения дефекта в БД для дальнейшего применения, обнаружения дефектов полупроводниковых пластин в поляризованном свете, проверки качества порошковых материалов и микроструктур поверхностей, поиска дефектов микросварки с помощью электромагнитных устройств, комбинированного метода поиска дефектов, технологии поиска дефектов на основе многоракурсной структуры и поиска дефектов методом гомографии. Эксперименты подтвердили высокую точность и эффективность обнаружения дефектов всех исследованных методов на корпусах интегральных микросхем. В этой статье рассматриваются и обобщаются тенденции 2025 г. в исследованиях и результатах применения оптического обнаружения дефектов ИЭТ с помощью технологий освещения. Авторы статьи: Д.А. Дормидошина, Ю.А.Евстифеев, В.Н.Ключников, Е.Н Ключников, Ю.В.Рубцов. Статья опубликована в журнале «Электронные компоненты», №1, 2026 года. Журнал издается с 1995 года и является авторитетным источником профессиональной информации для разработчиков электронной аппаратуры, технического руководства предприятии? отрасли, директоров по снабжению и надежным маркетинговым партнером для производителей и дистрибьюторов электронных компонентов. Посмотреть статью |
