Конференция, организованная ФГУП «МНИИРИП» при поддержке Министерства промышленности и торговли Российской Федерации, состоялась 23–24 мая 2018 года в г. Мытищи, Московской области. Участники мероприятия обсуждали проблемы испытаний электронной компонентной базы (ЭКБ) отечественного и импортного производства, возможности и перспективы их оптимизации путем создания специализированного интегрированного информационного центра.
В конференции принял участие генеральный директор АО "ЦКБ "Дейтон" Рубцов Ю.В., а также присутствовали более 200 представителей предприятий–разработчиков, изготовителей, поставщиков и потребителей ЭКБ, Министерства обороны Российской Федерации, ГК «Росатом», ГК «Роскосмос», интегрированных структур и испытательных центров.
Министерство промышленности и торговли Российской Федерации представлял Директор Департаменте радиоэлектронной промышленности Хохлов Сергей Владимирович.
Общий контекст конференции был задан докладом директора ФГУП «МНИИРИП» Павла Павловича Куцько. В его докладе был дан анализ состояния и определены ключевые проблемы организации и проведения испытаний ЭКБ. Главной темой обсуждения стало создание единого интегрированного центра организации и проведения испытаний ЭКБ. Докладчик определил цели, задачи и предложил форматы цифровых баз данных, создаваемых и управляемых в центре, процедуры их использования для организации и проведения испытаний ЭКБ.
В ходе выступлений руководителей и представителей АО «Российские космические системы», АО «Концерн ВКО «Алмаз Антей», группы «ФОРМ», ООО «Научно-исследовательский институт «АСОНИКА», ЯОК ГК «Росатом», Института экстремальной прикладной электроники НИЯУ «МИФИ», АНО «Военный Регистр» были подняты вопросы требований к высоконадежной ЭКБ космического назначения, качества и надежности разрабатываемой и производимой ЭКБ, создания отечественных автоматизированных средствах измерений, виртуальных испытаний ЭКБ, единой информационной системы управления качеством и надёжностью ЭКБ,а так же проблемы, с которыми сталкиваются испытательные подразделения.
По результатам обсуждений проблем и вопросов, поднятых на конференции,будет сформирован протокол, содержащий план мероприятий, направленных на реализацию решений, принятых в рамках конференции.
25.05.2018 - Научно-техническая конференция «Испытания ЭКБ. Возможности и проблемы»
Вернуться в «Новости АО "ЦКБ "Дейтон"»
Перейти
- Новости
- Новости АО "ЦКБ "Дейтон"
- Термины в микроэлектронике
- Обсуждение
- Нормативные документы в микроэлектронике
- Обсуждение
- Зарубежные аналоги ИС, ПП и корпусов
- Микросхемы интегральные
- Приборы полупроводниковые
- Корпуса
- Информационные справочники по содержанию драгоценных металлов в изделиях ЭКБ
- Справочник "Микросхемы интегральные. Содержание драгоценных металлов" (Обсуждение)
- Справочник "Приборы полупроводниковые. Содержание драгоценных металлов" (Обсуждение)
- Информационные издания по ПРП
- Справочник "Приборы полупроводниковые. Применение в условиях, не оговоренных на поставку". Редакция 2023г.
- Справочник "Микросхемы интегральные. Применение в условиях, не оговоренных на поставку". Редакция 2023г.
- Приборы полупроводниковые. Справочник по стойкости
- Микросхемы интегральные. Справочник по стойкости
- Микросхемы интегральные. Параметры
- База данных «Корпуса интегральных микросхем»
- Справочники-прейскуранты
- Справочник-прейскурант. Микросхемы интегральные
- Справочник-прейскурант. Приборы полупроводниковые
- Микросхемы интегральные. Указатель конструкторской документации
- Приборы полупроводниковые. Указатель конструкторской документации
- Каталог «Микросхемы интегральные для вторичных источников питания»
- Каталог. "Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи оптоэлектронные"
- Микросхемы Интегральные. Рекомендации по применению. Серия 142
- Каталог. "Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи"
- Каталог. "Микросхемы интегральные. Усилители операционные"
- Каталог «Приборы полупроводниковые. Транзисторы СВЧ диапазона»
- Каталог. "Микросхемы интегральные. Компараторы напряжения"
- Выводные рамки для микросхем интегральных и приборов полупроводниковых
- Справочник. Анализ отказов, дефектов и повреждений изделий радиоэлектроники импортного производства
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 5576
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Программируемые логические интегральные схемы
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 1156
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Схемы сравнения
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Микроконтроллеры. Серии 18--ВГ, 18--ВК
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Оперативные запоминающие устройства
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Микроконтроллеры. Серии 19--ВГ, 19--ВК
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Процессоры цифровой обработки сигналов. Серии 18--ВН, 18--ВЦ, 19--ВЦ
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Цифровые устройства обработки информации. Серии 18--ВА, ВБ, ВС, ВВ, ВТ
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Устройства обработки аналоговых сигналов
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые устройства обработки информации
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи.
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи оптоэлектронные.
- Справочник. "Приборы полупроводниковые. Показатели надежности"
- Справочник. "Микросхемы интегральные. Показатели надежности"
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Аналоговые устройства обработки информации
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые устройства обработки информации
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Источники вторичного электропитания.
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 140
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 1273
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Преобразователи
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 564.
- Модель графических условных обозначений
- Бюллетень «Микросхемы интегральные. Новые разработки».
- Каталог «Микросхемы интегральные. Технические характеристики»
- Бюллетень «Приборы полупроводниковые. Новые разработки».
- Каталог «Приборы полупроводниковые. Технические характеристики»
- Каталог «Приборы полупроводниковые. Габаритные чертежи корпусов»
- Каталог «Микросхемы интегральные. Условные графические обозначения, назначения выводов»
- Перечень корпусов ЭКБ
- Альбом «Микросхемы интегральные. Габаритные чертежи»
- Каталог корпусов полупроводниковых приборов
- Каталог корпусов интегральных микросхем
- Каталог. Индикаторы полупроводниковые
- Справочник "Микросхемы интегральные. Показатели надежности корпусов"
- Справочник "Приборы полупроводниковые. Показатели надежности корпусов"
- Каталог. «Изделия электронной техники, применяемые для диагностики, лечения и профилактики вирусных и бактериальных инфекций»
- Указатель обозначений выводов изделий электронной техники, применяемых при построении условных графических обозначений
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серия 5559
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Процессоры
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Усилители
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Серии 533, 555
- Каталог. Микросхемы интегральные. Серия 1564, КР1564
- Каталог «Микросхемы интегральные. Базовые матричные кристаллы».
- Рекомендации по применению. Микросхемы интегральные. Кристаллы базовые цифровые.
- Каталог «Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи».
- Обновление базы данных и ПО "Дейтрон"
Кто сейчас на конференции
Сейчас этот форум просматривают: нет зарегистрированных пользователей и 27 гостей