На заседании были рассмотрены актуальные для АО «ЦКБ «Дейтон» вопросы: моделирования отказов элементов металлизации микро- и наноэлектронных устройств под действием электромиграции; моделирования взаимодействия ионов с органическими резистами; моделирования технологического процесса фотолитографии в микроэлектронике с применением алгоритмов машинного обучения; TCAD-SPICE моделирования.
Участие специалистов, ученых и исследователей АО «ЦКБ «Дейтон» в заседании Научного совета Отделения нанотехнологий и информационных технологий Российской академии наук «Фундаментальные проблемы элементной базы информационно-вычислительных и управляющих систем и материалов для ее создания» явилось дополнительным источником знаний в области моделирования электронной компонентной базы для применения в системах автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры в обеспечение качества и надежности радиоэлектронной техники.
